衍射時差法超聲檢測技術(Time of Flight Diffraction Technique，簡稱TOM)是依靠超聲波與缺陷尖端或端部相互作用后發出的衍射波來檢測缺陷，并對缺陷進行定位、定量的一種無損檢測技術。

TOM檢測技術需要專用的掃查裝置，掃查裝置帶位置傳感器，在實施掃查的過程中實時成像(A掃描、D或B掃描)，檢測的數據可保存，通過專用的數據分析處理軟件可進行質量評判，TOM檢測技術采用全波射頻RF信號記錄和TOFD圖像顯示，故對缺陷評價時可利用的信息缺大，檢測結果更加直觀，結果分析更加科學。

TOM檢測技術在檢測精度、可靠性、降低成本、提高效率、環境保護等各個方面表現均十分優異。與傳統的超聲檢測方法相比，具有檢出能力強、精度高、檢測方便、成像直觀等優點,有常規波幅法檢測不具備的長處。TOM可根據被檢材料的幾何尺寸充分利用直通波的相位和缺陷端部的時間差信息，來對缺陷進行測深定高。